Odkrijte naše najnovejše inovacije na Mednarodnem industrijskem sejmu v Celju
08. do 11. april 2025 | Hala D | Razstavni prostor 21
Mednarodni industrijski sejem v Celju - Ne zamudite priložnosti za ekskluzivne predstavitve!
Vabimo vas, da nas obiščete na letošnjem Mednarodnem industrijskem sejmu v Celju, kjer boste imeli priložnost prvič v živo preizkusiti najnovejše ZEISS merilne sisteme. Letos smo za vas pripravili prav posebno premiero, saj bodo vsi sistemi, ki jih bomo razstavljali, prvič predstavljeni na sejmu.
Poleg celovite ponudbe merilnih rešitev bomo ekskluzivno predstavili tudi dve popolnoma novi ZEISS rešitvi. Prva je ZEISS O-INSPECT duo, napredni multisenzorski sistem, ki združuje optično in taktilno merjenje ter zagotavlja izjemno natančnost pri obdelavi različnih komponent. Druga novost je ZEISS SPECTRUM, povsem nova merilna rešitev, ki šele prihaja na trg in bo premierno lansirana to pomlad. Gre za izjemno prilagodljiv sistem, ki omogoča optično in taktilno merjenje na različnih geometrijah in površinah ter zagotavlja zanesljive rezultate v vseh industrijskih okoljih.
Na našem razstavnem prostoru št. 21 v hali D, boste lahko v živo spremljali demonstracije najnaprednejših merilnih tehnologij, se posvetovali z našimi strokovnjaki in preverili, kako lahko naše rešitve izboljšajo natančnost in učinkovitost vaših proizvodnih procesov. Da bo vaša izkušnja še bolj prilagojena vašim potrebam, vam omogočamo tudi rezervacijo demonstracije, kjer boste imeli priložnost podrobneje spoznati delovanje naših sistemov in preizkusiti njihove zmogljivosti.
Ne zamudite te edinstvene priložnosti! Rezervirajte si brezplačno vstopnico in nas obiščite na sejmu.
Za dodatne informacije ali prijavo na individualno demonstracijo izpolnite spodnji obrazec.
Veselimo se srečanja z vami!
Lokacija:
Mednarodni industrijski sejem Celje
Dečkova cesta 1
3000 Celje
Imate kakšno vprašanje? Veselimo se vašega povpraševanja!
your .metrology .at @zeiss .com
+386 1 5138 251

Na našem razstavnem prostoru vas pričakujejo naslednji sistemi in aplikacije:
- ZEISS SPECTRUM 7/10/6 (NOVO!): Taktilno in optično skeniranje.
- ZEISS METROTOM 1: X-Ray tehnologija - enostavna za uporabo.
- ZEISS O-INSPECT duo 8/6/3 (NOVO!): Merilni stroj in mikroskop v eni napravi
- ZEISS Industrijska mikroskopija: ZEISS Stemi 305 in ZEISS Stereo Discovery.V12 - uporaba umetne inteligence v mikroskopiji
- Programska oprema za upravljanje podatkov
- Izobraževanja in svetovanja
